能量色散型X射線熒光分析裝置EDX-GP

簡要描述：EDX-GP是Z適合用于RoHS/ELV/無鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。*次使用，也能輕松操作，操作簡便且以更高的精度進行微量分析，達到Z高靈敏度與Z佳分辨率的*結(jié)合。標(biāo)準(zhǔn)配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，使可以獲得Z佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統(tǒng) 。

產(chǎn)品型號：EDX-GP
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2023-07-26
訪問量：834

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詳細(xì)介紹

本裝置配置了RoHS/ELV檢測中*zui高的EDX－720型的半導(dǎo)體檢測器、濾光片及高計數(shù)率電路。

為什么需要高靈敏度？

能夠測定更微量的元素。測定時間更短，因此相同時間內(nèi)測定數(shù)量更多。

■鹵素系列阻燃劑中微量Cd

〔keV〕

為什么需要高分辨率？

可以減輕目標(biāo)元素附近的其他共存元素的重疊影響。

■ 鹵素系列阻燃劑中微量Pb

〔keV〕

為什么需要高精度？

在IEC提出的合格判定中，分析裝置的重現(xiàn)性對判定結(jié)果有很大的影響，重現(xiàn)性越好（即測定精度越高），合格判定的準(zhǔn)確度就越高。

利用濾光片提高靈敏度／還可以進行高靈敏度的無鹵素分析

標(biāo)準(zhǔn)配備了5種濾光片，可降低、除去形成背景成分的X射線管的散射線，提高檢測靈敏度。

本裝置在RoHS/ELV/無鹵素分析中會自動選擇3種zui合適的濾光片，進行高靈敏度測定?！?/td>

受X射線管Rh的特征X射線影響的Cl也可以測定

　微量成分：Cl（除去特征X射線）

利用濾光片提高檢測靈敏度

微量成分：Pb（背景降低）

濾光片條件靈活，滿足客戶要求

如果您希望在短時間內(nèi)對多個樣品進行測定，推薦使用單個濾光片進行高速分析。

<由單個濾光片進行高速分析> 測定時間：100秒

如果您希望對微量元素進行高靈敏測定，可以選擇各種濾光片進行高靈敏度分析。
與單個濾光片高速分析相比，靈敏度約提高2～3倍。

<由濾光片進行高靈敏度分析>
測定時間：300秒（100秒×3通道）

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