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當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > HORIBA(理科學) > X射線熒光光譜儀 > XploRA Nano&NanologHORIBAX*功能材料
簡要描述:*功能分析評估材料結(jié)構(gòu)性能,符合材料設(shè)涉及力,熱,聲,光,電功能的材料,他們在生命科學,納米,傳感器,只能設(shè)備及其前前沿交叉應(yīng)用中發(fā)揮著日益重要的作用,horibaXploRA Nano&Nanolog等代表性儀器,可以為這些材料的結(jié)構(gòu)性能研究提供的設(shè)備和分析應(yīng)用開發(fā)。
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品牌 | HORIBA/堀場 |
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典型應(yīng)用于:
AFM和Raman同區(qū)域一次成像,針尖增強拉曼,物理特性,化學結(jié)構(gòu)分析,納米材料制備激勵分析
碳管的手性,直徑,缺陷,碳管的發(fā)光機制及修飾,量子尺寸調(diào)節(jié),納米器件的發(fā)光效率。
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